Ученые из ПГУ и "ЛЭТИ" разработали новый метод обнаружения нановключений в тонкопленочных нанокомпозитах. Это открытие обещает революцию в сфере материалов и будет полезно для микро- и наноэлектроники, как сообщается в пресс-релизе ПГУ, опубликованном ТАСС.
Один из исследователей, доцент кафедры "Нано- и микроэлектроника" ПГУ, Андрей Карманов, подчеркнул, что предложенный метод позволит создавать и анализировать новые материалы, включая наноструктурированные, и настраивать их для конкретных целей. Этот подход будет полезен при разработке передовых устройств с улучшенными характеристиками, такими как высокочувствительные газовые сенсоры, миниатюрные энергоэффективные датчики вакуума и суперконденсаторы.
Карманов отметил, что диагностика является важным этапом в создании материалов с нановключениями, так как позволяет предсказать их поведение под воздействием внешних факторов. Существующие методы нанодиагностики не всегда способны обнаружить нановключения и требуют значительных затрат. Новое решение предлагает более доступный и эффективный подход, позволяя более детально изучать эволюцию нановключений в материалах.
Специалисты из Пензы и Санкт-Петербурга используют метод внутреннего трения для анализа эволюции нановключений. Путем нагрева образца и его "колебания" они могут определить количество нановключений и их изменения. Уникальность метода заключается в возможности не только обнаруживать нановключения, но и отслеживать их динамику, что позволяет оптимизировать материал для конкретных задач, например, для создания чувствительных элементов газовых сенсоров.
Эта технология уже позволила ученым создать чувствительный элемент газового сенсора с модифицированным материалом. Они также работают над газоаналитическим мультисенсорным чипом совместно с коллегами из СГТУ имени Ю. А. Гагарина. Карманов уверен, что новый метод диагностики будет широко применен в промышленности для разработки новых материалов и технологий.